BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀

描述：BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀
DataRay的BeamMap2代表了一種*不同的實時光束輪廓分析方法。它允許在光束行進的多個位置進行測量，從而擴展了Beam'R2的測量功能。這種實時狹縫掃描系統在旋轉的圓盤上的多個z平面中使用XY狹縫對，以同時在四個不同的z位置測量四個光束輪廓。 BeamMap2*的zhuan利設計對于實時測量焦點位置，M2，光束發(fā)散和指向zui為便利。

更新時間：2025-07-18

產品型號：

所在城市：北京市

廠商性質：代理商

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BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀

產品特點：

190至1150 nm，硅探測器

650至1800 nm，InGaAs檢測器

1000至2300或2500 nm，InGaAs（擴展）檢測器

光束直徑?100 µm至?3 mm（擴展的InGaAs為1.5 mm）

實時±1 mr實時散度和指向測量精度

USB 2.00.1 µm采樣和分辨率

實時多Z面掃描狹縫系統

實時XYZ輪廓，焦點位置

實時M2，發(fā)散，準直，對準

產品參數：

波長	Si detector: 190 to 1150 nmInGaAs detector: 650 to 1800 nm Si + InGaAs detectors: 190 to 1800 nm Si + InGaAs (extended) detectors: 190 to 2300 or 2500 nm
可測光斑尺寸	Si detector: 5 µm to 4 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs detector: 10 µm to 3 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode InGaAs (extended) detector: 10 µm to 2 mm, to 2 µm in Knife-Edge mode
平面間距 (4XY)	100 µm: -100, 0, +100, +400 µm 250 µm: -250, 0, +250, +1000 µm 500 µm: -500, 0, +500, +2000 µm 750 µm: -750, 0, +750, +3000 µm
平面間距 (3XYKE)	50 µm: -50, 0, +50, 0 µm 100 µm: -100, 0, +100, 0 µm
光斑束腰直徑測量	Second moment (4s) diameter to ISO 11146; Fitted Gaussian & TopHat 1/e 2 (13.5%) width User selectable % of peak Knife-Edge mode* for very small beams
光斑束腰位置測量	± 20 µm best in X, Y, and Z — contact DataRay for recommendation
可測光源	CW; Pulsed lasers, F µm = [500/(PRR in kHz)]
分辨率/精度	0.1 µm or 0.05% of scan range ± < 2% ± = 0.5 µm
M2 測量	1 to > 20, ± 5%
發(fā)散角/準直,指向性	1 mrad best — contact DataRay for recommendation
最da功率 & 輻照度	1 W Total & 0.5 mW/µm2
增益范圍	1,000:1 Switched 4,096:1 ADC range
顯示圖形	X-Y-Z Position & Profiles, Zoom x1 to x16
更新速率	~5 Hz
XY輪廓和質心	Beam Wander display and logging
電腦硬件要求	Windows, 2 GB RAM, USB 2.0/3.0 port

BeamMap2 XYZΘΦ 掃描狹縫光斑分析儀

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